กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน

           ในหัวข้อนี้จะพูดถึงกล้องจุลทรรศน์อีกประเภทหนึ่งคือกล้องจุลทรรศน์อิเล็คตรอน(Electron microscope) กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนประดิษฐ์ขึ้นครั้งแรกในปี พ.ศ.2475 โดย แมกซ์ นอล์ล และ เอิร์น รุสกาโดยพัฒนามาจากกล้องจุลทรรศน์ที่ใช้แสง โดยจะใช้ลำอิเล็กตรอนมาแทนที่แสง และใช้สนามแม่เหล็กไฟฟ้าแทนเลนส์แก้วซึ่งจะเป็นตัวช่วยในการมองเห็นภาพของวัตถุที่มีกำลังการขยายสูงมาก กล้องจุลทรรศน์อิเล็คตรอนมี สองประเภทได้แก่
1.กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนชนิดส่องผ่าน (Transmission Electron microscope) หรือเรียกแบบย่อว่า TEM ใช้ศึกษาโครงสร้างภายในของเซลล์ ซึ่งในปัจจุบันมีกำลังขยายมากถึงสองแสนถึงห้าแสนเท่า และสามารถส่องวัตถุได้ถึง 0.5 นาโนเมตร ได้ภาพที่เป็น 2 มิติ
2.กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนชนิดส่องกราด (Scanning Electron microscope) หรือเรียกแบบย่อว่า SEM ซึ่งคิดค้นโดยเอ็ม วอน เอนเดนนี่ ใช้ศึกษาโครงสร้างของผิวเซลล์หรือผิววัตถุ มีกำลังขยายต่ำกว่าชนิดส่องผ่าน โดยลำแสงอิเล็กตรอนจะส่องกราดไปบนผิวของวัตถุ ทำให้ได้ภาพที่มีลักษณะเป็น 3 มิติ